mengzhuhao 发表于 2012-6-19 08:26:42

使用ADS/Ansoft designer如何快速进行标准化测量？

使用ADS/Ansoft designer如何快速进行标准化测量？

例如DDR2/3中涉及到的tDS、tDH、CLK的时序与抖动统计计算、tDQSS等，读写时序的逻辑控制

如果通过编程的方法实现自动化测量，有熟悉的朋友么？

有那些思路、方法与例子呢？

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