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负片工艺,个别独立过孔掉孔环

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发表于 2012-5-24 13:16:43 | 显示全部楼层 |阅读模式
我司采用负片工艺,蚀刻后个别独立孔掉孔环,所有参数均在要求范围内,试板N次无果。请问一下有没有遇到同样问题的高手,并求解.
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发表于 2012-5-24 18:02:29 | 显示全部楼层
1.看下孔口边有没氧化。
2.将前处理烘干温度提高10度,最高可达95度,看下你们设备是否可行!
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发表于 2012-5-24 23:33:50 | 显示全部楼层
本帖最后由 a002756 于 2012-5-24 23:54 编辑

1.独立孔,因电流原因容易造成锡厚偏薄,你可以切片锡厚是否正常,如果锡厚异常,建议与客户确认是否可以在其旁边增加小PAD
2.可以查一下是否为板角叠板造成
3.是否为固定夹点另一端,建议查下浮靶上是否有假镀板脱落,未及时检出
你说的参数无异常,看来去膜NAOH浓度是没异常了?
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发表于 2012-5-25 13:32:20 | 显示全部楼层
值的回味的一件事.
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 楼主| 发表于 2012-5-25 15:54:52 | 显示全部楼层
是负片工艺,全板厚铜后曝光-显影-蚀刻-退膜,不用电镀二铜和锡。现在前处理烘干温度有90度了。
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发表于 2012-5-25 16:54:51 | 显示全部楼层
干膜结合力有问题!
孤立孔,孔是不是AR值很高,烘不干,导致干膜破孔。
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 楼主| 发表于 2012-5-26 10:19:41 | 显示全部楼层
你所说的AR值是否是指孔内有水汽,经过压膜机高温后空气会膨胀,将干膜顶起与板分离。导致过孔掉孔环。

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发表于 2012-5-26 16:45:34 | 显示全部楼层
是,我说的是烘不干带来的影响,所以你可以考虑放慢前处理速度,确保孔内烘干。
另外,图片不怎么清楚,可否直接告诉AR值多少?
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 楼主| 发表于 2012-5-26 21:17:59 | 显示全部楼层
AR值真没有数据。我再拍几张相片帮分析一下。
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发表于 2012-5-28 10:30:07 | 显示全部楼层
AR值是什么?有怎么测量?以什么为标准?
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