1. 3外層蝕刻線三大結構
1.3.1去膜
1.3.1.1去膜原理
成分: 2.0~3.0% NaOH,:10-15%聚乙二醇(消泡濟)
溫度: 55度
壓力: >2Kg/cm2
步驟: 潤濕 膨鬆 擊碎
輔助劑:錫保護劑
1.3.1.2化學反應方程式
NaOH + RCOOH ROO-Na+ + H2O
3.去膜槽過濾系統
A.目的: a.避免干膜屑堵塞噴嘴
b.避免干膜屑帶入水洗段
c.避免干膜溶解增加干膜負荷量
B.過濾系統設計:
a.藍網式過濾(Max-strainer)
b.即時移除式過濾(濾渣滾筒)
1.3.1. 4影響去膜速率的參數
A:去膜液的種類:特殊去膜液通常較快(有機鹼擴散較快),液鹼和MEA混合可以加快去膜速率。
B.乾膜種類:組成成分、厚度
C.濃度:濃度高較快
D.溫度:溫度高較快
E.乾膜負荷量:負荷量累積越高,速率減慢
F.噴壓:壓力高會較快
1.3.1.5去膜品質問題
剝膜不潔: 過度電鍍
乾膜殘足被包住
乾膜反沾
銅面氧化
乾膜不相容於去膜
鍍錫被攻擊
去膜製程控制不當
1.3.2蝕刻
1.3.2.1蝕刻原理
化學反應方程式:
2Cu + 2Cu(NH3)4Cl2 4Cu(NH3)2Cl(亞銅離子)
4Cu(NH3)2Cl + 4NH3 + 4NH4Cl 4Cu(NH3)4Cl2+2H2O
淨反應:
2Cu + 4NH4Cl + 1/2O2 2Cu(NH3)4Cl2 +2H2O
實際蝕銅的重要反應物質為二價銅,其中間態亞銅離子之溶解度很差,是一種污泥狀的沈澱物,若未有效及迅速除掉,將會在板面上形成蝕銅的障礙,造成板面或孔壁的污染,必須輔助以氨水﹑氯離子及空氣中大量的氧作為氧化劑,續氧化Cu+成為可溶性的二價銅離子,再度成為蝕銅的氧化劑,周而復始繼續蝕銅。
一般若是以比重控制器作為自動ES-480添加方式,槽液中的比重高於控制器設定值,則自動添加ES-480,日常操作分析Cu含量﹑氯含量﹑PH值。
1.3.2.2影響蝕刻因數說明
1.3.2.3蝕刻品質問題
蝕刻不全: 剝膜不潔 ;
鍍銅厚度不均勻
蝕刻過度;
蝕刻制程控制不當;;
鍍銅厚度不均勻
1.3.1. 4鈍化
目的: 無需導通的貫穿孔在電鍍時由干膜遮蓋,剝膜後孔內一銅,化學銅及鹼性鈀一併清除,但酸性鈀則無法完全清除。孔內未清除的酸性鈀於化鎳金制程中,將吸附化鎳金沉積,形成NPTH孔沾金。鈍化劑內含硫醇類化合物,與鈀形成硫化鈀類化合物,避免後制程化鎳金沉積。
1.3.3剝錫
1.3.1. 1錫藥液組成
A液: a.氧化劑︰將Sn氧化成SnO.
b.抗結劑︰將SnO轉成可溶解性結構,避免飽和沈澱.
c.抑制劑︰防止A液咬蝕錫銅合金.
B液: a.氧化劑︰咬蝕錫銅合金.
b.抗沈劑︰防止金屬氧化物沈澱.
c.護銅劑︰保護銅面,防止氧化
1.3.3.2剝錫反應機構
A. 咬錫:
氧化 溶解L 溶解H+
Sn SnO SnL H2SnO3(H2O)
B.錫銅合金剝除:
氧化
Cu6Sn5 Cu2+ + Sn2+ (溶解)
氧化
Cu3Sn Cu2+ + Sn2+ (溶解)
1.3.3.33剝錫品質問題:
剝錫不潔: 剝錫制程控制不當
噴嘴阻塞或設備漏水漏液
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