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使用ADS/Ansoft designer如何快速进行标准化测量?

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发表于 2012-6-19 08:26:42 | 显示全部楼层 |阅读模式
使用ADS/Ansoft designer如何快速进行标准化测量?

例如DDR2/3中涉及到的tDS、tDH、CLK的时序与抖动统计计算、tDQSS等,读写时序的逻辑控制

如果通过编程的方法实现自动化测量,有熟悉的朋友么?

有那些思路、方法与例子呢?

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