X荧光测厚仪(膜厚仪)

aiven2006

夏 超 (13661520070)
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韩国Micro Pioneer XRF-2000 系列荧光金属镀层测厚仪能提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能优越,而且价钱超值.只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任.全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整.超大/开放式的样品台,可测量较大的产品.是线路板,五金电镀,首饰,端子等行业的首选.可测量各类金属层、合金层厚度.

可测元素范围：

钛(Ti) – 铀(U)

可测量厚度范围：

原子序22-25，0.1-0.8μm

26-40，0.05-35μm

43-52，0.1-100μm

72-82，0.05-5μm

X-射线管：油冷,超微细对焦

高压：0-50KV(程控)    

准直器：

固定种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm

自动种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm

电脑系统：IBM相容,17”显示器

 

综合性能:镀层分析  定性分析  定量分析  镀液分析

镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层, 合金镀层.

镀液分析:可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液.

定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.

光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.

统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质.

名称： X-RAY荧光测厚仪 型号：ComPact ECO (普通型）和ComPact5(经济型) maXXi5                  maXXi5PIN PIN 厂家： 德国Rontgenfluoreszenz公司 特点： 无损 单、双、三层镀层的厚度测量 容易对焦镀层厚度和成分同时分析 /合金定量分析 十字叉丝带点状试样指示器 镀液定量分析 用高效能X射线转换器使测量时间缩短 现代化技术领先的软件 安全性高，使用寿命长 用外部打印格式和数据储存进行精密统计计算 多层镀层系统的厚度和成分分析 软件 μ-MasteR 厚度测量值的评估软件 Fun-MasteR 非标基本元素校准软件 Element-MasteR 快速、简便的定性分析软件 %-MasteR 可达8种元素的准确量化软件 LiQuiD-MasteR 电镀液分析软件 Data-MasteR 数据处理软件 Report-MasteR 客户化的报告软件 技术数据 电源： 110伏或230伏 60赫兹或50赫兹 样件台： 100mm（长)×85mm（高）×60mm（深） 仪器尺寸： 450mm（长)×400mm（高）×650mm（深） 式样室： 60mm(长）×350mm（高）×380mm（深） X-射线管: 带钨阳极的高功率管(空冷) X-射线源: 40千伏，电流最高1毫安 辐射安全: 配合测试标准AnlageII，Abs.3 经PTB试验